halaman_banner (1)
halaman_banner (2)
halaman_banner (3)
halaman_banner (4)
halaman_banner (5)
  • Probe Uji Wafer Rugi Penyisipan Rendah RF yang Tahan Lama
  • Probe Uji Wafer Rugi Penyisipan Rendah RF yang Tahan Lama
  • Probe Uji Wafer Rugi Penyisipan Rendah RF yang Tahan Lama
  • Probe Uji Wafer Rugi Penyisipan Rendah RF yang Tahan Lama

    Fitur:

    • Tahan lama
    • Penyisipan Rendah
    • Kerugian VSWR Rendah

    Aplikasi:

    • Tes Gelombang Mikro

    Penyelidikan

    Probe adalah perangkat elektronik yang digunakan untuk mengukur atau menguji sinyal atau properti listrik di sirkuit elektronik. Mereka biasanya dihubungkan ke osiloskop, multimeter, atau peralatan uji lainnya untuk mengumpulkan data tentang rangkaian atau komponen yang diukur.

    Karakteristiknya meliputi:

    1. Pemeriksaan RF yang tahan lama
    2. Tersedia dalam empat jarak 100/150/200/25 mikron
    3.DC hingga 67GHz
    4. Kerugian penyisipan kurang dari 1,4 dB
    5.VSWR kurang dari 1,45dB
    6. Bahan tembaga berilium
    7. Tersedia versi tinggi saat ini (4A)
    8. Lekukan ringan dan kinerja yang andal
    9. Ujung probe paduan nikel anti oksidasi
    10. Konfigurasi khusus tersedia
    11. Cocok untuk pengujian chip, ekstraksi parameter persimpangan, pengujian produk MEMS, dan pengujian antena chip sirkuit terpadu gelombang mikro

    Keuntungan:

    1. Akurasi dan pengulangan pengukuran yang sangat baik
    2. Kerusakan minimal akibat goresan pendek pada bantalan aluminium
    3. Resistensi kontak yang khas<0,03Ω

    Berikut ini adalah beberapa area penerapan umum probe RF:

    1. Tes sirkuit RF:
    Probe RF dapat dihubungkan ke titik uji rangkaian RF, dengan mengukur amplitudo, fase, frekuensi, dan parameter sinyal lainnya untuk mengevaluasi kinerja dan stabilitas rangkaian. Hal ini dapat digunakan untuk menguji penguat daya RF, filter, mixer, amplifier dan sirkuit RF lainnya.
    2. Uji sistem komunikasi nirkabel:
    Probe RF dapat digunakan untuk menguji perangkat komunikasi nirkabel, seperti ponsel, router Wi-Fi, perangkat Bluetooth, dll. Dengan menghubungkan probe RF ke port antena perangkat, parameter seperti daya pancar, sensitivitas penerimaan, dan frekuensi Penyimpangan dapat diukur untuk mengevaluasi kinerja perangkat dan memandu debugging dan optimasi sistem.
    3. Uji antena RF:
    Probe RF dapat digunakan untuk mengukur karakteristik radiasi antena dan impedansi masukan. Dengan menyentuhkan probe RF ke struktur antena, VSWR (rasio gelombang berdiri tegangan), mode radiasi, penguatan, dan parameter lainnya antena dapat diukur untuk mengevaluasi kinerja antena dan melakukan desain serta optimalisasi antena.
    4. Pemantauan sinyal RF:
    Probe RF dapat digunakan untuk memantau transmisi sinyal RF dalam sistem. Ini dapat digunakan untuk mendeteksi redaman sinyal, interferensi, refleksi, dan masalah lainnya, membantu menemukan dan mendiagnosis kesalahan dalam sistem, dan memandu pekerjaan pemeliharaan dan debugging yang sesuai.
    5. Uji kompatibilitas elektromagnetik (EMC):
    Probe RF dapat digunakan untuk melakukan pengujian EMC guna menilai sensitivitas perangkat elektronik terhadap interferensi RF di lingkungan sekitar. Dengan menempatkan probe RF di dekat perangkat, respons perangkat terhadap medan RF eksternal dapat diukur dan kinerja EMC-nya dapat dievaluasi.

    gelombang berkualitasInc. menyediakan probe frekuensi tinggi DC~110GHz, yang memiliki karakteristik masa pakai yang lama, VSWR rendah, dan kehilangan penyisipan rendah, serta cocok untuk pengujian gelombang mikro dan area lainnya.

    img_08
    img_08
    Probe Port Tunggal
    Nomor Bagian Frekuensi (GHz) Nada (μm) Ukuran Tip (m) IL (dB Maks.) VSWR (Maks.) Konfigurasi Gaya Pemasangan Konektor Daya (W Maks.) Waktu Pimpin (minggu)
    QSP-26 DC~26 200 30 0,6 1.45 SG 45° 2.92mm - 2~8
    QSP-40 DC~40 100/125/150/250/300/400 30 1 1.6 GS/SG/GSG 45° 2.92mm - 2~8
    QSP-50 DC~50 150 30 0,8 1.4 GSG 45° 2.4mm - 2~8
    QSP-67 DC~67 100/125/150/240/250 30 1.5 1.7 GS/SG/GSG 45° 1.85mm - 2~8
    QSP-110 DC~110 50/75/100/125 30 1.5 2 GS/GSG 45° 1.0mm - 2~8
    Probe Port Ganda
    Nomor Bagian Frekuensi (GHz) Nada (μm) Ukuran Tip (m) IL (dB Maks.) VSWR (Maks.) Konfigurasi Gaya Pemasangan Konektor Daya (W Maks.) Waktu Pimpin (minggu)
    QDP-40 DC~40 125/150/650/800/1000 30 0,65 1.6 SS/GSGSG 45° 2.92mm - 2~8
    QDP-50 DC~50 100/125/150/190 30 0,75 1.45 GSSG 45° 2.4mm - 2~8
    QDP-67 DC~67 100/125/150/200 30 1.2 1.7 SS/GSSG/GSGSG 45° 1.85mm, 1.0mm - 2~8
    Probe Manual
    Nomor Bagian Frekuensi (GHz) Nada (μm) Ukuran Tip (m) IL (dB Maks.) VSWR (Maks.) Konfigurasi Gaya Pemasangan Konektor Daya (W Maks.) Waktu Pimpin (minggu)
    QMP-20 DC~20 700/2300 - 0,5 2 SS/GSSG/GSGSG Pemasangan Kabel 2.92mm - 2~8
    QMP-40 DC~40 800 - 0,5 2 GSG Pemasangan Kabel 2.92mm - 2~8
    Substrat Kalibrasi
    Nomor Bagian Nada (μm) Konfigurasi Konstanta Dielektrik Ketebalan Dimensi Garis Besar Waktu Pimpin (minggu)
    QCS-75-250-GS-SG-A 75-250 GS/SG 9.9 25mil (635μm) 15*20mm 2~8
    QCS-100-GSSG-A 100 GSSG 9.9 25mil (635μm) 15*20mm 2~8
    QCS-100-250-GSG-A 100-250 GSG 9.9 25mil (635μm) 15*20mm 2~8
    QCS-250-500-GSG-A 250-500 GSG 9.9 25mil (635μm) 15*20mm 2~8
    QCS-250-1250-GSG-A 250-1250 GSG 9.9 25mil (635μm) 15*20mm 2~8

    PRODUK YANG DIREKOMENDASIKAN

    • Waveguide ke Adaptor Coax

      Waveguide ke Adaptor Coax

    • RF VSWR Rendah Tidak ada tes PCB pengelasan Konektor Peluncuran Akhir

      RF VSWR Rendah Tanpa pengujian PCB pengelasan Sambungan Peluncuran Akhir...

    • Sistem Uji Isolasi Tinggi Kecepatan Peralihan Tinggi RF Sakelar Dioda PIN SP16T

      Sistem Uji Isolasi Tinggi Kecepatan Peralihan Tinggi RF...

    • Sampler Daya Rugi Penyisipan Rendah Daya Tinggi Broadband

      Broadband High Power Low Insertion Loss Power S...

    • Broadband High Power Low Insertion Loss Single Directional Crossguide Coupler

      Broadband High Power Low Insertion Loss Single ...

    • Osilator Terkendali Tegangan Resonantor Dielektrik (Drvco)

      Tegangan Resonantor Dielektrik Terkendali...